大规模集成电路逻辑功能测试英文解释翻译、大规模集成电路逻辑功能测试的近义词、反义词、例句
英语翻译：
【计】 LSI logic function testing
分词翻译：
大规模的英语翻译：
cosmically; wholesale集成电路的英语翻译：
integrated circuit【计】 integrated circuit
【化】 integrated circuit
【经】 integrated circuit
逻辑的英语翻译：
logic【计】 logic
【经】 logic
功能测试的英语翻译：
【计】 function testing; functional test; functional testing网络扩展解释
大规模集成电路逻辑功能测试
大规模集成电路逻辑功能测试的中文拼音为“dà guī mó jí chéng diàn lù luògic gōngnéng cè shì”，英文解释为“large-scale integrated circuit logic functional testing”，读音为/lɑːdʒ skeɪl ˈɪntɪɡreɪtɪd ˈsɜːrkət ˈlɒdʒɪk ˈfʌŋkʃ(ə)n(ə)l ˈtesting/。该词汇用于描述测试大规模集成电路的逻辑功能是否在既定的操作条件下工作正常。
举个例子，假设你正在设计一项新型电子产品，你需要确保产品中的集成电路通过大规模集成电路逻辑功能测试，以确保产品能够正常运行。
英文例句：
- Our engineers are working on the large-scale integrated circuit logic functional testing to identify any possible issues before launching the product.（我们的工程师正在进行大规模集成电路逻辑功能测试，以在产品推出前识别出任何可能的问题。）
英文近义词：
- integrated circuit testing（集成电路测试）
- logic testing（逻辑测试）
- functional testing（功能测试）
英文反义词：
- analog circuit testing（模拟电路测试）
该词汇在电子工程领域非常常见，常用度很高。希望这篇文章有助于读者了解和掌握这个词汇。