次级离子质谱法英文解释翻译、次级离子质谱法的近义词、反义词、例句
英语翻译：
【化】 secondary ion mass spectroscopy(SIMS)
分词翻译：
次级的英语翻译：
【医】 inferiority
离子的英语翻译：
ion
【化】 ion
【医】 ion
质谱法的英语翻译：
【化】 mass spectrometry
网络扩展解释
次级离子质谱法
次级离子质谱法的中文拼音为cì jí lí zǐ fèn fǎ，是一种通过产生次级离子来分析分子结构和成分的质谱技术。
该技术的英语解释翻译为Secondary Ion Mass Spectrometry，缩写为SIMS。
其英文读音为/ˈsekəndəri ˈaɪən mæs spɛktrəmətri/。
在应用方面，SIMS被广泛用于材料科学、化学、生物医学等领域的表征和研究。
英文用法
在英语中，Secondary Ion Mass Spectrometry通常简称为SIMS。
此外，常用的形容词有secondary ion mass spectrometric，在名词前做修饰语时。
英文例句
1. The SIMS technique has become an indispensable tool in materials science research.（SIMS技术已成为材料科学研究中不可或缺的工具。）
2. Secondary ion mass spectrometry imaging can reveal the distribution of molecules on the surface of a sample.（次级离子质谱成像技术能够揭示样品表面分子的分布情况。）
英文近义词
1. Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS
2. TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry（飞行时间次级离子质谱法）
3. SNMS: Secondary Neutral Mass Spectrometry（次级中性质谱法）
英文反义词
没有明确的英文反义词。
英文单词常用度
根据Google Ngram Viewer的数据显示，自20世纪70年代以来，Secondary Ion Mass Spectrometry这个词组的使用频率逐渐增加，并在21世纪初达到了峰值。
在现代科学研究中，SIMS是一个非常重要的技术和工具，因此该词汇在科学界内部是相对常用的术语。