电路内测试英文解释翻译、电路内测试的近义词、反义词、例句
英语翻译：
【计】 in-circuit test
分词翻译：
电路的英语翻译：
circuit; circuitry
【计】 electrocircuit
【化】 circuit; electric circuit
【医】 circuit
内的英语翻译：
inner; inside; within
【医】 end-; endo-; ento-; in-; intra-
测试的英语翻译：
test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test
网络扩展解释
电路内测试
电路内测试的中文拼音为“diàn lù nèi cè shì”，英语解释翻译为“chip-level testing”，发音为/tʃɪp lɛvəl ˈtɛstɪŋ/。
电路内测试是指对芯片或集成电路（IC）的内部进行测试，以确保各个部件和功能均能正常运行。这种测试方法通常比外部测试更准确、更快速和更经济。
例句：电路内测试可以在生产过程中及时检查芯片的质量。
英文近义词
1. embedded testing：指在芯片或系统中嵌入测试电路，进行内部测试。
2. in-circuit testing：指在电路板上进行测试，而不是在单个元器件上进行测试。
3. boundary scan testing：一种在芯片上进行测试的方法，通过扫描输出和输入数据的状态来检查接口的正确性。
英文反义词
1. external testing：指在芯片或系统外部进行测试的方法。
2. functional testing：指通过模拟芯片在实际应用中的运行情况来进行测试。
3. system testing：指对完整的电子系统进行测试。
英文单词常用度
电路内测试在芯片制造和设计领域广泛使用，因此在相关领域中得到了广泛的使用和认可。在工程技术文献、学术论文和行业报告中都能看到这个词汇的使用。
以上就是关于电路内测试的中英文翻译、读音和用法解释，希望能对你有所帮助。