场离子显微镜检查法英文解释翻译、场离子显微镜检查法的近义词、反义词、例句
英语翻译：
【化】 field ion microscopy(FIM)
分词翻译：
场离子显微镜的英语翻译：
【电】 field-ion microscope; ion microscope
检查法的英语翻译：
【经】 checking method
网络扩展解释
场离子显微镜检查法
场离子显微镜 (Scanning Ion Conductance Microscopy, SICM) 是一种非接触式表面形貌成像技术。场离子显微镜检查法就是利用场离子显微镜进行表面检查的方法。
中文拼音
Chǎng lízǐ xiǎnwēi jìnchá fǎ
英语解释翻译
Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) examination
英文读音
/ˈskanɪŋ aɪən kənˈdʌktəns maɪˈkrɒskəpi ɪɡˌzæmɪneɪʃən/
英文的用法
SICM examination is a non-contact surface imaging technique that employs Scanning Ion Conductance Microscopy to visualize the surface properties of biological samples, among others.
英文例句
Our group used SICM examination to image the nanoscale morphology of living cells.
我们的研究小组使用场离子显微镜检查法对活细胞进行纳米形态成像。
英文近义词
Atomic force microscopy (AFM), Scanning Tunneling Microscopy (STM)
原子力显微镜、扫描隧道显微镜
英文反义词
Optical microscopy
光学显微镜
英文单词常用度
SICM examination 属于生命科学领域的专用词汇，常用于科研论文和学术交流中。